帮助手册GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法现行
标准摘要
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。
本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜（STEM）。
注：若需要正式出版文本，请底部扫码咨询客服。
代替标准
现行标准
修改单
- 国别:
- 中国
- 英文名称:
- Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy-Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- 中标分类:
- 无
- ICS分类:
- 无
- 发布日期:
- 2017-07-12
- 实施日期:
- 2018-06-01
- 发布部门:
- 国家质量监督检验检疫总局＆国家标准化管理委员会
- 发布号:
- 2017年第18号 点此查看此公告发布的标准
- 官方来源:
- 国家标准委
- 起草单位:
- 北京科技大学
- 本标准无引用标准
- 本标准无被引用标准
食典报订阅号
食典通服务号
客服号
© 2016 食典通-食品安全标准免费下载网 北京达邦数据技术有限公司提供 京ICP备10012965号-3