帮助手册GB/T 28634-2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析现行
标准摘要
本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS)，通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
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代替标准
现行标准
修改单
- 国别:
- 中国
- 英文名称:
- Microbeam analysis-Electron probe microanalysis-Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
- 中标分类:
- N 53
- ICS分类:
- 分析化学 > 有关化学分析方法的其他标准
- 发布日期:
- 2012-07-31
- 实施日期:
- 2013-02-01
- 发布部门:
- 国家质量监督检验检疫总局＆国家标准化管理委员会
- 发布号:
- 2012年第17号 点此查看此公告发布的标准
- 官方来源:
- 国家标准化管理委员会
- 起草单位:
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