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GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法现行

发布日期:2010-09-26 实施日期:2011-08-01

标准摘要

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。

本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

注:若需要正式出版文本,请底部扫码咨询客服。

代替标准

现行标准

修改单

国别:
中国
英文名称:
Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
中标分类:
G 04
ICS分类:
分析化学 > 化学分析
发布日期:
2010-09-26
实施日期:
2011-08-01
发布部门:
国家质量监督检验检疫总局&国家标准化管理委员会
发布号:
官方来源:
国家标准化管理委员会
起草单位:
福建光电有限公司&厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室

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